Chinese Journal of Stereotactic and Functional Neurosurgery ›› 2023, Vol. 36 ›› Issue (5): 309-315.DOI: 10.19854/j.cnki.1008-2425.2023.05.0010

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  • Received:2023-03-22 Online:2023-10-25 Published:2023-12-05

脑深部电刺激术后磁共振成像:现状与进展

刘杰, 马硕, 王宇涵, 潘宜新, 孙伯民   

  1. 200001 上海 上海交通大学医学院附属瑞金医院功能神经外科
  • 通讯作者: 孙伯民 sbm11224@rjh.com.cn
  • 基金资助:
    上海科技发展基金会项目(编号:21DZ1100300),上海市市级科技重大专项(Shanghai Municipal Science and Technology Major Project)(编号:2021SHZDZX)

摘要: 患有运动障碍和精神疾病的患者,越来越多地通过植入脑深部电刺激(Deep brain stimulation,DBS)系统来得到治疗。该类患者的围术期与远期术后检查,都需要影像学支持。磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging,MRI)是对这些患者进行监测和诊断的首选方式。然而,MRI的磁场环境和植入物之间的相互作用给患者带来了潜在的健康隐患,如局部异常发热和设备故障。这种矛盾使得研发兼容MRI的DBS系统变得迫切。近年来,兼容MRI的DBS系统得到初步发展,能够兼容较低磁场强度(如1.5T)的DBS系统已经进入临床,而提高兼容的MRI磁场强度的同时抑制伪影、更加精确地成像和防范MRI相关不良反应,是当下临床对DBS系统提出的更高要求。本文综合以往相关文献,对DBS术后MRI扫描的现状,不良反应及其原因和MRI兼容DBS系统的近年的发展趋势做一综述,以期对临床工作提供一定指导。

关键词: 脑深部电刺激, 磁共振成像, 不良反应

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